信頼性クリニック

環境試験や寿命試験後の故障解析、市場で発生した電子製品・電子部品の故障解析サービスです。単なる分析・解析結果の提供にとどまらず、ご依頼に応じ故障の原因究明に主眼をおいた考察や対策等のご提案を致します。
また、故障解析に関するご相談や良品開発へのコンサルティングは随時承っております。

こんな事でお困りではありませんか？

ご依頼から故障解析/分析・調査の流れ

故障メカニズム推定への基本的なアプローチ

故障解析では、軸となる手順をしっかりと踏んで解析を進めることが何より重要です。予想にとらわれたり、やみくもな調査では行き詰まりや後戻り、或いは誤った結果となってしまう可能性が高くなります。まずは、故障状態を十分に観察し、効果的な解析手法を選択することが重要です。
以下に弊社の故障メカニズム推定への基本的なアプローチ方法をご紹介します。

1

故障箇所の可視化と故障条件の推定

• 故障現物の状態確認
• 故障発生経緯の確認（発生場所／発生時間／発生率　etc.）
• 故障型の推定（初期／偶発／磨耗）
• 機能／動作原理／構造確認

2

故障箇所の絞込み

• 良品と故障品の状態比較観察から故障箇所の絞込み
• 故障現物の状態から分析／解析プログラムの立案

3

故障箇所の可視化と故障条件の推定

• 分析／解析手法を用いた実装基板、電気／機構部品等々の故障モードの可視化
• 故障モードの可視化から故障現象に起因する環境／電気／物理／化学等の要因を推定

4

故障メカニズムの推定

• 分析／解析結果データ、学術的データ、一般的な自然科学理論を基に故障メカニズムを推定
• 故障メカニズムの推定検証として、模擬／再現試験を実施

代表的な信頼性クリニックメニュー

サービス領域	試験・設備名
信頼性クリニック関連	広帯域走査型電子顕微鏡（S-3700N）
	エネルギー分散型X線分析装置（EDX）
	三次元透過型電子顕微鏡（3D-TEM/H7650）
	ワンショット３D形状測定器（VR-3200/キーエンス）
	マイクロフォーカスX線CTシステム（3D画像）
	カラーX線透視装置（TCX-4200A/東芝）
	超音波探傷映像装置（SAT）
	半導体パッケージの開封装置
	フラットミリング装置（E-3200）
	クロスセクションポリッシャー（SM-09010）
	３Dマイクロスコープ（VHX-700F/キーエンス）
	各種顕微鏡観察装置（実体顕微鏡/金属顕微鏡/ハレーションマイクロスコープ）
	フーリエ変換赤外光分析装置（FT-IR）
	ガスクロマトグラフィ（GC）
	液体クロマトグラフィ
	高温観察装置（SK-5000）
	発煙発火事故調査・解析（NITE/原因究明登録機関）
	市場不具合の技術相談・調査
	各種電子部品の故障解析（技術相談含む）
	各種電子部品の断面研磨（切断・樹脂埋め、観察）
	未然防止解析（良品解析）
	各種故障解析に関する技術相談

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