商品情報

環境試験・受託試験

寿命試験

一般的に多大な時間と手間がかかる電子材料・部品の寿命試験を、弊社が独自に開発した各種の自動計測システムを使用し効率の良い試験を行います。環境ストレス下で試料の劣化挙動を確認しながら、試料の寿命推定が可能です。
また、信頼性クリニックとの連携により、試料の故障原因の究明などを含め、信頼性試験に精通したスタッフが質の高い試験報告書を提供致します。

  • 絶縁寿命試験
  • エレクトロケミカルマイグレーション試験
  • 誘電特性試験
  • 各種コンデンサ寿命試験
絶縁劣化特性評価テスタ(SIR13)+低温恒温恒湿器(HIFLEX NEO-S
  • 接続部寿命試験
  • はんだ接続寿命試験
導通信頼性評価テスタ(MLR22)+気槽式温度サイクル試験器 (WINTECH
  • 瞬断断線寿命試験
イベントディテクター (ED71)+振動試験装置
  • 接続強度寿命試験(引張/圧縮)
オートグラフ
最大負荷容量:10kN
試験速度範囲:0.001〜1000mm/min
データサンプリング速度:1msec
代表的な寿命試験メニュー
サービス領域 試験・設備名
寿命試験関連 絶縁抵抗試験(表面絶縁、体積絶縁等)
エレクトロケミカルマイグレーション試験
誘電特性試験
各種接続部の寿命試験(実装部品等)
はんだ接続部寿命試験(はんだ選定試験含む)
瞬断/断線寿命試験(電線・コネクタ等)
接続強度寿命試験(引張・圧縮・せん断)
各種コンデンサの寿命試験(積層セラミック、アルミ電解等)

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