商品情報

環境試験・受託試験

自動計測システム

絶縁劣化・特性評価システム

多種多様な電子デバイス等が開発される中、絶縁劣化の早急な評価が
求められ、低電圧から高電圧(10kV)まで高速・高精度での測定を
実現したイオンマイグレーション・パワーデバイス評価装置です。

導通信頼性評価システム

高温低温の温度サイクル試験下で、微細パターン、コネクター接合部、
配線基板のビアなどの寿命、故障評価を高精度のAC測定(100nΩ分解能)
とDC測定(1mΩ分)が1台でできる導通信頼性評価装置です。

瞬断検出(イベントディテクタ)システム

ハーネス、コネクターの結合部や接触部、またフレキシブル基板の
曲げなどで、電気的な信号伝達の安全性を評価するため瞬間的
(最小50nsec)な断線(7Ω以上)を検出できる装置です。

エレクトロマイグレーション評価システム

IC高集積化に伴いチップ内の配線微細化、液晶パネル、タッチパネルなど
寿命評価を行うために、高温定電流試験、ストレスマイグレーション試験など、
各種導通配線の信頼性を評価できる装置です。

コンデンサ特性評価システム

LCフィルタ、基板、各種コンデンサ等あらゆるキャパシタ製品に対して、
誘電正接(tanσ)、インピーダンス、容量、温度特性、周波数特性の変化を
測定することができます。
測定電圧は600Vまで印加することが可能です。

コンデンサ加速寿命試験システム


1CHの電圧、電流、負荷容量が大きいため、コンデンサ生産ラインの
品質評価、寿命評価を同時に数千個単位での測定が可能です。
バーインとして使用可能で、2台のオーブンをコントロール可能です。

コンデンサ絶縁特性評価システム


コンデンサの絶縁信頼性評価は、コンデンサの寿命、品質評価に必須です。
1CH当たりの電流容量が小さいので、1素子1CHの評価を省スペースにて
多CHの同時測定ができ、絶縁抵抗、リーク電流の評価が可能です。

酸化膜特性評価システム

高集積、高電圧な半導体デバイスの評価に必須である、TDDB/TZDBによる
酸化膜の信頼性評価、ホットキャリアの劣化、C-V特性など各種信頼性特性を
多CHで同時に評価できる装置です。

計測システム技術情報

計測器に関する技術情報を公開しております。ぜひご利用ください。(クリックすると別窓で開きます)

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