商品情報

環境試験・受託試験

コンデンサ加速寿命試験システム TLE

コンデンサ寿命試験システムTLE 60

  • 1ch当たり最大で1kV/20mA・500V/50mA・250V/50mAのハイパワー印加が行え、長時間のコンデンサ寿命評価試験を自動で行います。
  • テスタは10chを1つのボードで構成されており、最大20ボードまでコントロール可能です。
  • 1ch当たりの電流量・負荷容量が大きいため、1ch に複数(20 個〜50 個)のコンデンサを接続することも出来るので、寿命測定試験やバーンイン試験にも使用可能です。
  • リミッタ電流を設定できるため、破壊寸前の停止が可能です。
TLE仕様
印加電圧 1~250.00V 10~500.0V 10~1000.0V
測定電圧 0~250.00V 0~500.00V 0~1000.0V
測定電流 0~50.000mA
0~5.0000mA
0~500.0 uA
0~50.000mA
0~5.0000mA
0~500.00uA
0~50.000uA
0~20.0000mA
0~2.00000mA
0~200.000uA
0~20.0000uA
リミッタ電流 0.500~50.000mA 5.000~50.000mA 4.000~20.000mA
最大負荷容量 1200uF/CH 1200uF/CH 1200uF/CH

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